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Ingegneria informatica (Anno Accademico 2019/2020) - Ingegneria Informatica (ad esaurimento)

Elettronica e Misure elettroniche



Bibliografia

Filtra per anno accademico:
Lezione n.1: Introduzione

Lezione n.2: I semiconduttori drogati

Lezione n.3: Il trasporto di carica nei semiconduttori

Lezione n.4: La giunzione pn I

Lezione n.5: La giunzione pn II

Lezione n.6: Il transistore bipolare

Lezione n.7: Il transistore bipolarecircuiti equivalenti

Lezione n.8: Il sistema MOS

Lezione n.9: Il transistore MOS struttura e funzionamento statico

Lezione n.10: Il transistore MOS circuiti equivalenti

Lezione n.11: I circuiti amplificatori

Lezione n.12: L'amplificatore operazionale ideale

Lezione n.13: L'uso del MOSFET come amplificatore

Lezione n.14: Altri stadi amplificatori a MOSFET

Lezione n.15: L'uso del transistore bipolare come amplificatore

Lezione n.16: Altri stadi amplificatori a transistore bipolare

Lezione n.17: Introduzione all'elettronica digitale l'inverter

Lezione n.18: Dinamica, dissipazione ed interfacciamento di porte logiche

Lezione n.19: Le porte logiche in tecnologia MOS

Lezione n.20: I circuiti bistabili

Lezione n.21: I comparatori di soglia

Lezione n.22: La conversione AD e DA

Lezione n.23: Esempi di convertitori

Lezione n.24: I circuiti di memoria

Lezione n.25: Le memorie ad accesso casuale

Lezione n.26: Le ragioni della misura

Lezione n.27: Progettazione ed esecuzione di una misura

Lezione n.28: Organizzazione internazionale della metrologia

Lezione n.29: Incertezza di misura. Il modello deterministico

Lezione n.30: Incertezza di misura. Il modello probabilistico I

Lezione n.31: Incertezza di misura. Il modello probabilistico II

Lezione n.32: Caratteristiche metrologiche della strumentazione di misura

n. 32.1 -
Calibration: Philosophy in Practice  (A.A. 2007-2008)
Lezione n.33: L'oscilloscopio analogico I

Lezione n.34: L'oscilloscopio analogico II

Lezione n.35: L'oscilloscopio analogico III

Lezione n.36: L'oscilloscopio digitale

n. 36.1 -
Misure Elettroniche  (A.A. 2007-2008)
Lezione n.37: Voltmetri per grandezze alternative

Lezione n.38: Multimetri analogici

Lezione n.39: Multimetri digitali

Lezione n.40: Metodi di confronto

n. 40.1 -
Misure elettriche - Metodi e strumenti  (A.A. 2007-2008)
Lezione n.41: Misure nel dominio della frequenza: aspetti generali

n. 41.1 -
Spectrum and Network Measurements  (A.A. 2010/2011)
Lezione n.42: Analisi spettrale analogica - I parte

n. 42.1 -
Spectrum and Network Measurements  (A.A. 2010/2011)
Lezione n.43: Analisi spettrale analogica - II parte

Lezione n.44: Analisi spettrale analogica - III parte

Lezione n.45: Analisi spettrale numerica (aspetti teorici)

n. 45.1 -
Spectrum and Network Measurements  (A.A. 2010/2011)
n. 45.2 -
Lezioni di Teoria dei Segnali  (A.A. 2010/2011)
Lezione n.46: Analisi spettrale numerica (aspetti di misura)

n. 46.1 -
Lezioni di Teoria dei Segnali  (A.A. 2010/2011)
Lezione n.47: Analisi spettrale numerica (misurazioni con finestre e strumentazione di misura)

n. 47.1 -
Spectrum and Network Measurements  (A.A. 2010/2011)
Lezione n.48: Sistemi automatici di misura

n. 48.1 -
Sistemi di Misura VXI  (A.A. 2010/2011)
Lezione n.49: Misurazioni sulle reti, contesto di misura

n. 49.1 -
Network Troubleshooting  (A.A. 2010/2011)
n. 49.2 -
Communications Network Test & Measurement Handbook  (A.A. 2010/2011)
n. 49.3 -
Testing communication and computer networks: an overview  (A.A. 2010/2011)
Lezione n.50: Misurazioni sulle reti, strumenti e metodi

n. 50.1 -
Network Troubleshooting  (A.A. 2010/2011)
n. 50.2 -
Communications Network Test & Measurement Handbook  (A.A. 2010/2011)
n. 49.3 -
Testing communication and computer networks: an overview  (A.A. 2010/2011)