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Corso Vittorio Emanuele II, 39 - Roma 0669207671

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MOOC Massive Open Online Courses (Anno Accademico 2019/2020)

Elettronica e Misure elettroniche



Sitografia

Filtra per anno accademico:
Lezione n.1: Introduzione

Lezione n.2: I semiconduttori drogati

Lezione n.3: Il trasporto di carica nei semiconduttori

Lezione n.4: La giunzione pn I

Lezione n.5: La giunzione pn II

Lezione n.6: Il transistore bipolare

Lezione n.7: Il transistore bipolarecircuiti equivalenti

Lezione n.8: Il sistema MOS

Lezione n.9: Il transistore MOS struttura e funzionamento statico

Lezione n.10: Il transistore MOS circuiti equivalenti

Lezione n.11: I circuiti amplificatori

Lezione n.12: L'amplificatore operazionale ideale

Lezione n.13: L'uso del MOSFET come amplificatore

Lezione n.14: Altri stadi amplificatori a MOSFET

Lezione n.15: L'uso del transistore bipolare come amplificatore

Lezione n.16: Altri stadi amplificatori a transistore bipolare

Lezione n.17: Introduzione all'elettronica digitale l'inverter

n. 17.1 -
Introduction to Digital Electronics  (A.A. 2009/2010)
digital electronics
Lezione n.18: Dinamica, dissipazione ed interfacciamento di porte logiche

Lezione n.19: Le porte logiche in tecnologia MOS

Lezione n.20: I circuiti bistabili

Lezione n.21: I comparatori di soglia

Lezione n.22: La conversione AD e DA

Lezione n.23: Esempi di convertitori

Lezione n.24: I circuiti di memoria

Lezione n.25: Le memorie ad accesso casuale

Lezione n.26: Le ragioni della misura

Lezione n.27: Progettazione ed esecuzione di una misura

Lezione n.28: Organizzazione internazionale della metrologia

n. 28.1 -
http://www.bipm.fr/  (A.A. 2007-2008)
n. 28.2 -
http://www.bipm.org/en/si/si_brochure/  (A.A. 2007-2008)
n. 28.3 -
http://kcdb.bipm.org/  (A.A. 2007-2008)
n. 28.4 -
http://www.european-accreditation.org/content/mla/scopes.mpi  (A.A. 2007-2008)
Lezione n.29: Incertezza di misura. Il modello deterministico

Lezione n.30: Incertezza di misura. Il modello probabilistico I

Lezione n.31: Incertezza di misura. Il modello probabilistico II

Lezione n.32: Caratteristiche metrologiche della strumentazione di misura

Lezione n.33: L'oscilloscopio analogico I

Lezione n.34: L'oscilloscopio analogico II

Lezione n.35: L'oscilloscopio analogico III

Lezione n.36: L'oscilloscopio digitale

Lezione n.37: Voltmetri per grandezze alternative

Lezione n.38: Multimetri analogici

Lezione n.39: Multimetri digitali

Lezione n.40: Metodi di confronto

Lezione n.41: Misure nel dominio della frequenza: aspetti generali

Lezione n.42: Analisi spettrale analogica - I parte

Lezione n.43: Analisi spettrale analogica - II parte

Lezione n.44: Analisi spettrale analogica - III parte

Lezione n.45: Analisi spettrale numerica (aspetti teorici)

Lezione n.46: Analisi spettrale numerica (aspetti di misura)

n. 46.1 -
Funzioni finestra  (A.A. 2010/2011)
Lezione n.47: Analisi spettrale numerica (misurazioni con finestre e strumentazione di misura)

Lezione n.48: Sistemi automatici di misura

n. 48.1 -
Labview  (A.A. 2010/2011)
Lezione n.49: Misurazioni sulle reti, contesto di misura

Lezione n.50: Misurazioni sulle reti, strumenti e metodi