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Lezione n.1:
Basic circuit concepts for electronics and examples
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Lezione n.2:
Elementary circuits review
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Lezione n.3:
Basic Analog Amplifiers Concepts
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Lezione n.4:
Operational amplifier and related circuits
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Lezione n.5:
The pn junction diode, model and some examples - part I
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Lezione n.6:
The pn junction diode, model and some examples - part II
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Lezione n.7:
Some basic analog circuits with diodes
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Lezione n.8:
Bipolar Junction Transistor (BJT)
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Lezione n.9:
The MOSFET transistor
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Lezione n.10:
MOSFET Models in Little Signal condition
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Lezione n.11:
BJT Model in little signal condition
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Lezione n.12:
Circuit simulation with SPICE
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Lezione n.13:
Tutorial on SPICE
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Lezione n.14:
Modeling MOSFET devices in SPICE simulator
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Lezione n.15:
Modeling BJT devices in SPICE Simulator
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Lezione n.16:
Digital Electronics: an introduction
- n. 16.1 -
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Introduction to Digital Electronics
(A.A. 2009/2010)
digital electronics
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Lezione n.17:
CMOS Logic
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Lezione n.18:
Digital memories and FLIP FLOPS
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Lezione n.19:
Fundamentals of measurement theory
- n. 19.1 -
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JCGM 200:2008. International Vocabulary of Metrology (VIM)
(A.A. 2009/2010)
- n. 19.2 -
-
Bureau international des poids et mesures (BIPM)
(A.A. 2009/2010)
- n. 19.3 -
-
SI base units
(A.A. 2009/2010)
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Lezione n.20:
Electronic measurements: general aspects
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Lezione n.21:
Metrological properties of measuring devices
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Lezione n.22:
Measurement uncertainty: theoretical aspects
- n. 22.1 -
-
Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement (GUM)
(A.A. 2009/2010)
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Lezione n.23:
Measurement uncertainty: application aspects
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Lezione n.24:
Time domain: period and frequency measurements
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Lezione n.25:
Time domain: time interval measurements
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Lezione n.26:
Digital voltmeters: theoretical aspects
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Lezione n.27:
Digital voltmeters: practical aspects
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Lezione n.28:
AC voltmeters
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Lezione n.29:
True rms voltmeters and multimeters
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Lezione n.30:
Digital storage oscilloscopes
- n. 30.1 -
-
XYZs of Oscilloscopes
(A.A. 2011/2012)
- n. 30.2 -
-
Data Acquisition
(A.A. 2011/2012)
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Lezione n.31:
Analog-to-digital converters
- n. 31.1 -
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Noise, Averaging and Dithering in Data Acquisition Systems
(A.A. 2011/2012)
- n. 31.2 -
-
Bandpass Sampling for Data Acquisition Systems
(A.A. 2011/2012)
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Lezione n.32:
DSO: memory, E.T. sampling and probes
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Lezione n.33:
Measurements in frequency domain: general aspects
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Lezione n.34:
Analog spectrum analysis
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Lezione n.35:
Superetherodyne spectrum analyzer
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Lezione n.36:
Digital spectrum analysis
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