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Ingegneria informatica (Ακαδημαϊκό έτος 2018/2019) - Ingegneria Informatica (ad esaurimento)

Elettronica e Misure elettroniche



Ασκήσεις

Φιλτράρισμα ανά ακαδημαϊκό έτος:
Φιλτράρισμα ανά τύπο άσκησης:
Υλικό που σχετίζεται με όλο το μάθημα.

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Prova d'esame del 27/09/2011  (Ακαδ.Έτος 2011/2012)
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Prova d'esame del 13/01/2011  (Ακαδ.Έτος 2011/2012)
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Prova d'esame del 07/07/2011  (Ακαδ.Έτος 2011/2012)
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Prova d'esame del 30/11/2011  (Ακαδ.Έτος 2011/2012)
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Prova d'esame del 14/12/2011  (Ακαδ.Έτος 2011/2012)
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Prova d'esame del 28/03/2012  (Ακαδ.Έτος 2011/2012)
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Prova d'esame del 13/01/2012  (Ακαδ.Έτος 2011/2012)
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Prova d'esame del 17/04/2012  (Ακαδ.Έτος 2012/2013)
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Prova d'esame del 27/04/2012  (Ακαδ.Έτος 2012/2013)
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Prova d'esame del 27/06/2012  (Ακαδ.Έτος 2012/2013)
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Prova d'esame del 16/07/2012  (Ακαδ.Έτος 2012/2013)
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Prova d'esame del 09/10/2012  (Ακαδ.Έτος 2012/2013)
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Prova d'esame dell'11/12/2012  (Ακαδ.Έτος 2012/2013)
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Prova d'esame del 15/01/2013  (Ακαδ.Έτος 2012/2013)
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Prova d'esame del 09/04/2013  (Ακαδ.Έτος 2013/2014)
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Prova d'esame del 08/05/2013  (Ακαδ.Έτος 2013/2014)
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Prova d'esame del 22/07/2013  (Ακαδ.Έτος 2013/2014)
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Prova d'esame del 05/09/2013  (Ακαδ.Έτος 2013/2014)
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Prova d'esame del 03/10/2013  (Ακαδ.Έτος 2013/2014)
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Prova d'esame del 16/12/2013  (Ακαδ.Έτος 2013/2014)
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Prova d'esame del 13/01/2014  (Ακαδ.Έτος 2013/2014)
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Prova d'esame del 01/04/2014  (Ακαδ.Έτος 2013/2014)
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Prova d'esame del 05/05/2014  (Ακαδ.Έτος 2013/2014)
ν. μαθήματος1: Introduzione

ν. μαθήματος2: I semiconduttori drogati

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Esercizi proprieta' dei semiconduttori  (Ακαδ.Έτος 2008-2009)
ν. μαθήματος3: Il trasporto di carica nei semiconduttori

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Esercizi Trasporto  (Ακαδ.Έτος 2008-2009)
ν. μαθήματος4: La giunzione pn I

ν. μαθήματος5: La giunzione pn II

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Esercizi giunzione pn  (Ακαδ.Έτος 2008-2009)
ν. μαθήματος6: Il transistore bipolare

ν. μαθήματος7: Il transistore bipolarecircuiti equivalenti

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Esercizi bjt  (Ακαδ.Έτος 2008-2009)
ν. μαθήματος8: Il sistema MOS

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Esercizi MOS  (Ακαδ.Έτος 2008-2009)
ν. μαθήματος9: Il transistore MOS struttura e funzionamento statico

ν. μαθήματος10: Il transistore MOS circuiti equivalenti

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Esercizi di Riepilogo parte 1: dispositivi a semiconduttore  (Ακαδ.Έτος 2008-2009)
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Verifica 1  (Ακαδ.Έτος 2008-2009)
ν. μαθήματος11: I circuiti amplificatori

ν. μαθήματος12: L'amplificatore operazionale ideale

ν. μαθήματος13: L'uso del MOSFET come amplificatore

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Esercizi Amplificatore MOS  (Ακαδ.Έτος 2008-2009)
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Testo sercizi Stadio Amplificatore MOSFET a drain comune  (Ακαδ.Έτος 2008-2009)
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Soluzione Esercizio Stadio Amplificatore MOSFET a drain comune  (Ακαδ.Έτος 2008-2009)
ν. μαθήματος14: Altri stadi amplificatori a MOSFET

ν. μαθήματος15: L'uso del transistore bipolare come amplificatore

ν. μαθήματος16: Altri stadi amplificatori a transistore bipolare

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Verifica 2  (Ακαδ.Έτος 2008-2009)
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Esercizi di Riepilogo parte 2: circuiti elettronici analogici  (Ακαδ.Έτος 2008-2009)
ν. μαθήματος17: Introduzione all'elettronica digitale l'inverter

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Esercizi Inverter CMOS  (Ακαδ.Έτος 2008-2009)
ν. μαθήματος18: Dinamica, dissipazione ed interfacciamento di porte logiche

ν. μαθήματος19: Le porte logiche in tecnologia MOS

ν. μαθήματος20: I circuiti bistabili

ν. μαθήματος21: I comparatori di soglia

ν. μαθήματος22: La conversione AD e DA

ν. μαθήματος23: Esempi di convertitori

ν. μαθήματος24: I circuiti di memoria

ν. μαθήματος25: Le memorie ad accesso casuale

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Verifica 3  (Ακαδ.Έτος 2008-2009)
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Esercizidi riepilogo parte 3: Circuiti Elettronici Digitali  (Ακαδ.Έτος 2008-2009)
ν. μαθήματος26: Le ragioni della misura

ν. μαθήματος27: Progettazione ed esecuzione di una misura

ν. μαθήματος28: Organizzazione internazionale della metrologia

ν. μαθήματος29: Incertezza di misura. Il modello deterministico

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Esercizi svolti: stima dell'incertezza (modello deterministico)  (Ακαδ.Έτος 2007-2008)
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Traccia esercizio 1 (modello deterministico)  (Ακαδ.Έτος 2007-2008)
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Traccia esercizio 2 (modello deterministico)  (Ακαδ.Έτος 2007-2008)
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Traccia esercizio 3 (modello deterministico)  (Ακαδ.Έτος 2007-2008)
ν. μαθήματος30: Incertezza di misura. Il modello probabilistico I

ν. μαθήματος31: Incertezza di misura. Il modello probabilistico II

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Esercizi di stima dell'incertezza secondo il modello probabilistico  (Ακαδ.Έτος 2007-2008)
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Traccia esercizio 1 (modello probabilistico)  (Ακαδ.Έτος 2007-2008)
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Traccia esercizio 2 (modello probabilistico)  (Ακαδ.Έτος 2007-2008)
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Traccia esercizio 3 (modello probabilistico)  (Ακαδ.Έτος 2007-2008)
ν. μαθήματος32: Caratteristiche metrologiche della strumentazione di misura

ν. μαθήματος33: L'oscilloscopio analogico I

ν. μαθήματος34: L'oscilloscopio analogico II

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Impiego dell'oscilloscopio analogico  (Ακαδ.Έτος 2007-2008)
ν. μαθήματος35: L'oscilloscopio analogico III

ν. μαθήματος36: L'oscilloscopio digitale

ν. μαθήματος37: Voltmetri per grandezze alternative

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Impiego di voltmetri per AC  (Ακαδ.Έτος 2007-2008)
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Traccia esercizio 1 (voltmetri per AC)  (Ακαδ.Έτος 2007-2008)
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Traccia esercizio 2 (voltmetri per AC)  (Ακαδ.Έτος 2007-2008)
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Traccia esercizio 3 (volmetri per AC)  (Ακαδ.Έτος 2007-2008)
ν. μαθήματος38: Multimetri analogici

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Impiego di voltmetri analogici  (Ακαδ.Έτος 2007-2008)
ν. μαθήματος39: Multimetri digitali

ν. μαθήματος40: Metodi di confronto

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Esempi di metodi di confronto  (Ακαδ.Έτος 2007-2008)
ν. μαθήματος41: Misure nel dominio della frequenza: aspetti generali

ν. μαθήματος42: Analisi spettrale analogica - I parte

ν. μαθήματος43: Analisi spettrale analogica - II parte

ν. μαθήματος44: Analisi spettrale analogica - III parte

ν. μαθήματος45: Analisi spettrale numerica (aspetti teorici)

ν. μαθήματος46: Analisi spettrale numerica (aspetti di misura)

ν. μαθήματος47: Analisi spettrale numerica (misurazioni con finestre e strumentazione di misura)

ν. μαθήματος48: Sistemi automatici di misura

ν. μαθήματος49: Misurazioni sulle reti, contesto di misura

ν. μαθήματος50: Misurazioni sulle reti, strumenti e metodi